X-RAY透视检测设备  X射线离线检测仪X6600介绍

X-RAY检测设备ZM-X6600是一款高性价比的微焦点X射线检测设备，

特别适用于电子制造和半导体bga芯片检测，快速检测桥接、空洞、开路、多锡少锡、断线、通孔对齐度等品质缺陷。

离线式X射线检测设备X6600特点:

可编辑的检测程序

探测器更大倾斜65°

可以控制载物台X-Y方向运动的速度

X光管和探测器可以沿Z轴方向移动软件设置电压与电流

超大导航窗口，鼠标点击即可将载物台移动到所指位置。

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